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線性IC參數(shù)分選測試儀
產(chǎn)品型號： ICT3198
所屬分類：集成電路測試儀
產(chǎn)品時間：2024-05-06
簡要描述：ICT3198 線性IC參數(shù)分選測試儀，IST3198是繼ICT3100數(shù)字IC品質(zhì)分選測試儀之后向國內(nèi)外市場推出的又一新品。它融合了國內(nèi)外同類產(chǎn)品的諸多優(yōu)點并有所創(chuàng)新。是一種智能化程度*的新一代線性集成電路測試儀。它可對通常使用的單運放及多運放 、比較器等進(jìn)行快速測試。
ICT3198 線性IC參數(shù)分選測試儀，IST3198線性IC參數(shù)分選測試儀是繼ICT3100數(shù)字IC品質(zhì)分選測試儀之后向國內(nèi)外市場推出的又一新品。它融合了國內(nèi)外同類產(chǎn)品的諸多優(yōu)點并有所創(chuàng)新。是一種智能化程度*的新一代線性集成電路測試儀。它可對通常使用的單運放及多運放 、比較器等進(jìn)行快速測試。
IST3198是繼ICT3100數(shù)字IC品質(zhì)分選測試儀之后向
國內(nèi)外市場推出的又一新品。它融合了國內(nèi)外同類產(chǎn)品的諸多優(yōu)點并有所創(chuàng)新。是一種智
能化程度*的新一代線性集成電路測試儀。它可對通常使用的單運放及多運放 、比較器
等進(jìn)行快速測試。
它具備以下特點：
1．根據(jù)IC型號自動切換測試，無需人工轉(zhuǎn)接線更換測試盒。
2．具有自校準(zhǔn)功能，測試參數(shù)基準(zhǔn)穩(wěn)定。
3．測試參數(shù)值讀取快潔、直觀。
4．測試操作簡單。
5．它可以對線性IC的11項交直流參數(shù)進(jìn)行測試及功能測試。
6．提供自適應(yīng)測試方式：以樣片為基準(zhǔn)，對同型號IC 進(jìn)行篩選測試進(jìn)行快速篩選。
主要技術(shù)指標(biāo)
3．1 額定工作條件及規(guī)格：
整 機(jī) 功 耗： 35W
電 源： 220V/AC 50HZ
使用環(huán)境溫度： 5─35
相 對 濕 度： 45%RH
重 量： 5.5kg
外界電磁干擾： 避免
序 號 測 試 參 數(shù) 單 位 誤 差 1 失調(diào)電壓 Vio mV <5%
2 失調(diào)電流 Iio nA <5% 3 偏置電流 Iib nA <5%
4 靜態(tài)功耗 Pd mW <5% 5 開環(huán)增益 Avd db <5%
6 共模抑制比 Kcmr db <5% 7 輸入電阻 Rid KΩ <10%
8 輸出電阻 Ros Ω <10% 9 增益帶寬積 Gbw KH <5%
10 電源電壓抑制比 Ksvr db <5% 11 輸出電壓峰--峰值 Vopp V <5%
12 壓擺率 Sr V/us <10% 3．3
測試內(nèi)容說明
靜態(tài)工耗是在測試電壓為± 8V下測得（個別特殊比較器在+12V/-6V下測得）。
·對于自適應(yīng)測試，比較誤差小于5%
·失調(diào)電壓測量范圍：100uV─100mV Vos 超過 100mV 時， 認(rèn)為功能失效；
|Vos| 在2mV─100mV之間，相對誤差<3%；|Vos| 在0.1─2mV之間，相對誤差<6%失調(diào)電
流。
·偏置電流測量范圍：Ios，Ib >10nA時 相對誤差<3%；Ios，Ib<10nA相對誤差<8%；Ios；
Ib<0.5nA，相對誤差較大。
·靜態(tài)功耗測量范圍：0.3─180mW、Pd>10mW，相對誤差 <3%
·輸出電阻測量范圍：25─2.5k，分辨率為5Ω
·輸入電阻測量范圍：20KΩ─15MΩ，分辨率KΩ
·輸入電阻高于15M的芯片不測此項參數(shù)，若“錯敲”鍵入型號，如測LF347 而入
“342”（LM324），所測的輸入電阻是不真實的。
·壓擺率為擴(kuò)充測試項。
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